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  • 利用FPGA實現(xiàn)模式可變的衛(wèi)星數(shù)據(jù)存儲器糾錯系統(tǒng)

    時間:2024-07-03 05:28:43 理工畢業(yè)論文 我要投稿
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    利用FPGA實現(xiàn)模式可變的衛(wèi)星數(shù)據(jù)存儲器糾錯系統(tǒng)

    摘要:比較討論了航天器數(shù)據(jù)存儲器中漢明碼和TMR兩種典型糾錯系統(tǒng)的原理、實現(xiàn)以及數(shù)據(jù)可靠性的估計,在此基礎上提出了一種集成這兩種系統(tǒng)模式并可在實際應用中根據(jù)需要切換模式的糾錯系統(tǒng)設計方案,探討了該系統(tǒng)的特點和優(yōu)勢,介紹了利用FPGA實現(xiàn)該系統(tǒng)的過程和經(jīng)驗。

    空間飛器在太空環(huán)境中面臨的主要問題之一就是輻射。太空中的各種高能粒子(包括高能質子、中子、α粒子、得離子等)具有很高的動能,通過時可能會影響半導體電路的邏輯狀態(tài),甚至對半導體材料造成永久損害。單個高能粒子對電子器件功能產生的影響稱之為單粒子效應。其中,導致存儲內容在'0'、'1'之間發(fā)生變化的單粒子翻轉(SEU)問題特別受以關注。

    微小衛(wèi)星的研發(fā)思路是周期短、成本低、技術新,因此大量采用市場上容易取得的商業(yè)級電子器件。這些器件具有高密度、低功耗、低成本、擴展性強等特點,但通常沒有經(jīng)過嚴格的抗輻射測試,也沒有采用完善的抗輻射工藝。解決微小衛(wèi)星的抗輻射問題需要采取綜合措施,包括整體防護、設計冗余等,而對具體數(shù)據(jù)存儲器則通常采用編碼、備份等方法利用信息冗余應對SEU現(xiàn)象。與物理存儲器件相配合,實現(xiàn)上述檢錯/糾錯功能的電路就是微小衛(wèi)星星載計算機系統(tǒng)的數(shù)據(jù)差錯檢測和糾正模塊(Error Detection And Correction,EDAC)。

    1 漢明碼與TMR方案比較

    在微小衛(wèi)星的EDAC模塊設計中,經(jīng)常采用編碼(主要是漢明碼)或三倍冗余判決(Triple Modular Redundancy,TMR)的方案。下面分別說明這兩種方案并加以比較。

    1.1 線性分組碼

    編碼是在數(shù)據(jù)通信和數(shù)據(jù)存儲領域廣泛使用的檢錯/糾錯方法。

    線性分組碼是使用很廣泛的差錯控制編碼[1],其信息位和監(jiān)督位的關聯(lián)由一組線性代數(shù)方程組表示。(n,k)線性分組碼的編碼就是建立由m(m=n-k)個生成冗余位的方程構成的方程組,并由此線性方程組轉化為k×n的生成矩陣G。編碼時將信息位向量(k維)乘以生成矩陣G,即得到碼字向量[Cn-1…C0],見式(1)。

    [Cn-1,Cn-2,∧,Cn-k,Cm-1,∧,C0]=[Cn-1,Cn-2,∧,Cn-k] ×Gk×n (1)

    將式(1)表示的方程組作移位變換,可以得到由式(2)表示的形式,H稱為監(jiān)督矩陣。解碼時通過監(jiān)督矩陣H與讀出的碼字向量C的乘積結果一校驗子S來判斷是否出錯。當讀出的碼字微量C乘上H后得到一個零向量,表示沒有出錯;否則表示碼字在存儲之后發(fā)生了變化,即有錯誤發(fā)生。

    S=Hm×n×[Cn-1, ∧,C0]T (2)

    當碼字中某位(單一位)發(fā)生錯誤時,會得到唯一的非零校驗子S向量,該向量只與碼字出錯位置的圖樣有關,而與碼字C無關。

    漢明碼是能糾正單個錯誤的線性分級。其對應的G矩陣即為漢明碼生成矩陣。這種編碼下,分組編碼總長是2m-1位,信息位長度是2m-m-1位,即(2m-1,2m-m-1)漢明碼。(2m-1,2m-m-1)漢明碼是編碼效率最高的糾單錯線性分組碼。但考慮到一般計算機存儲系統(tǒng)以字節(jié)為單位,而2m-m-1通常不是8的倍數(shù),所以對漢明碼加以擴展后,可以得到(12,8)、(22,16)等分組編碼方案。這些方案具有一些新的特點,例如一種(22,16)方案可以做到糾單錯、檢雙錯,稱作漢明SEC-DED碼[2]。還可以通過優(yōu)選,得到最佳監(jiān)督矩陣H,使得運算電路最為簡單、快速。

    1.2 TMR

    TMR的原理是將同一份信息保存在三份物理存儲空間中。讀取的時候比較三份內容,如果不完全相同,就取兩個一致的值為直值。在CPU通過總線向內存寫入數(shù)據(jù)(WR有效)時,每一比特數(shù)據(jù)通過三態(tài)門同時寫到三個對應的比特存儲單元中。當總線向內存請求數(shù)據(jù)(RD有效)時,三份同時存儲的內容到達比較器,比較器邏輯按照前述規(guī)則輸出數(shù)據(jù)內容及是否發(fā)生2/3判決的標記。根據(jù)總線要求,多路開關可以將數(shù)據(jù)內容或者每3比特比較器的2/3判決標記輸出到總線上,后者可供分析研究可靠性時使用。

    1.3 兩種方案的比較

    從存儲空間的絕對大小角度考慮,編碼方案比冗余判決方案要節(jié)省大量的存儲空間。如果采用(22,16)漢明碼,每1MB有效內存需要實際物理內存1.375MB。而采用TMR方案則需要3MB實現(xiàn)物理內容。

    從系統(tǒng)的糾錯可靠性角度考慮,首先假定內存的單粒子翻轉事件(SEU)所發(fā)生的物理地址[3]和時間都是均勻分布的。設每一比特內存單元在單位時間內發(fā)生單粒子翻轉的概率為σ。則每m比特內存結構中v比特發(fā)生SEU的概率為:

    采用(22,16)漢明碼方案后,可以糾正每22比特內存行單元中的單比特錯誤。對于一行22比特編碼記錄,不發(fā)生SEU以及只有一比特發(fā)生SEU的概率和,即為該行內存單元的可靠性。因此,每22比特的行漢明碼內存單元可靠性為:

    每22比特行單元的有效容量是16位,即2個字節(jié)。故對于有效大小為N字節(jié)的漢明碼內存系統(tǒng),由N/2個行單元構成。其可靠性為:

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